DIC微分干涉金相显微镜（导电粒子专用）
主要为微电子及LCD液晶行业研制，配合DIC微分
干涉装置可以对ACF导电粒子压痕情况进行检测。
1、表面光适合观察IC等
2、透射光适合观察 FPD,MEMS等
3、DIC适合观察ACF导电粒子压痕等
可定制机型（视频型）
